图6 FIB环芯法

图7 FIB盲孔法

II类应力测定的区域在微米量级，X射线法难以满足多晶条件，故采用机械法。因其损伤只在微米尺度，国际上在有损和无损之外，为之增加一种分类，称之为微创法。

就测试方法可以看出测得的应力应该属于微区内的宏观残余应力，相当于图1中从零坐标计算的II类应力，而不是和宏观应力之间的差值。即单独测定II类应力，而非围绕宏观应力上下的波动值，而是其绝对值。

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