II类应力的测定

I类应力即残余应力的测定方法非常成熟，并已经获得了广泛的工程应用，如X射线法、盲孔法等。而II类应力的测定，目前在工程应用上尚存在一定的难度。

II类应力处于晶粒尺度，早期测定有较大的难度，只有双相材料，硬质合金等测过II类应力，测定的数值也是统计平均值而非某一微区的应力值。

电子束散射衍射(EBSD)及聚集离子束(FIB)技术的发展，使测定某微区的应力值成为可能。图6是采用环芯法将试样切成岛状，测定应力释放前后标定点的位移，计算微区应力。图7是在西安交大用聚焦离子束在硅片的2.6微米铜膜上试验盲孔法。

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