三种电路拓扑对运算放大器DC参数测试

三种电路拓扑对运算放大器DC参数测试

1979 年 1 月,《电子测试》发表了一篇文章称,一款单个测试电路可“执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准 DC 测试”。单个测试电路在那个时候可能够用,但今天并非如此,因为现代运算放大器具有更全面的规范。因此,单个测试电路不再包揽所有 DC 测试。



现在经常使用三种测试电路拓扑对运算放大器 DC 参数进行工作台及生产测试。这三种拓扑为 (1) 双运算放大器测试环路、(2) 自测试环路(有时称故障求和点测试环路)和 (3) 三运算放大器环路。您可使用这些电路测试 DC 参数,其中包括静态电流 (IQ)、电压失调 (VOS)、电源抑制比 (PSRR)、共模抑制比 (CMRR) 以及 DC 开环增益 (AOL)

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