显微红外热点定位测试系统|金鉴实验室 | 显微( 三 )


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案例五:电源失效分析之热点定位
委托单位电源出现失效现象,委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中,金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试,定位到电源结构中的 R5电阻在使用时发热严重,经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下,而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作,长期使用过程中导致R5电阻失效。
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案例六:
测试原理:PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下,通常会表现出异常局部功耗分布,最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ,可快速而准确地探测细微缺陷(异常点)位置。
室温24.5℃条件下,对待测区域施加5V电压,此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示,其中红色三角形标识处即为热点所在,红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置,该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。
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局部漏电PCB样品【 显微红外热点定位测试系统|金鉴实验室 | 显微】红外热点定位测试
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红外热点定位图 可见光图(测试区域) 红外-可见光融合图