NEO半导体推出X-NAND,兼顾SLC的速度和QLC的密度

NAND闪存诞生这么多年 , 它的发展一直没有停下来 , 基本上都是追求更高的存储密度 , 所以从最初的SLC一直发展到现在的QLC , 虽然存储密度大幅度提升 , 但论性能的话还最初的SLC更快 。 在2020年闪存峰会上 , NEO半导体首席执行官兼创始人Andy Hsu介绍了他们公司的新X-NAND闪存架构 , 新的架构有望把SLC的速度与QLC的高密度与低价结合在一起 。
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消息来自tomshardware , 该公司称X-NAND的随机读写与写入比QLC闪存快三倍 , 连续读取快27倍 , 连续写入快14倍 , 从性能来看确实非常之快 。
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此外芯片的尺寸更小 , Die Size只有同样16 planes的NAND闪存的37% , 这样就可以有更好的灵活性 , 可以根据实际需要缩减芯片的尺寸 , 而且X-NAND在较小的尺寸下依然有较高的并行性 , 就像智能手机或者M.2 SSD上看到的那样 , 可以在不影响耐用性和成本的情况下实现这一目标 , 而且它的功耗非常低 。
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现在的QLC SSD严重依赖SLC Cache , 因为QLC的原始写入速度实在太低了 , 所以QLC SSD基本上都会利用它的容量优势配备大容量SLC Cache , 在消费级市场上通常来说写入压力不会很大 , 所以有足够的空闲时间把SLC缓冲区搬运到QLC闪存上存储 , 但企业级负载就没有这样的时间了 。 X-NAND允许同时进行SLC和QLC写入模式 , 这样就能让闪存一直保持SLC的性能 。
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西数预计到2024年闪存市场上QLC的份额可能高达50% , X-NAND的设计目标是确保使用现有NAND的方案 , 传统的NAND工艺无需进行结构更改 , 没有额外的制造成本 , 并且可以通过快速采样开发 , 该设计旨在加快QLC的推广应用 , 特别是在数据中心市场 , 让QLC的性能不再是瓶颈 。
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同时X-NAND对编程与擦除策略进行了修改 , 这样可以提高QLC闪存的耐用性 , X-NAND把页面缓冲区从16KB改到1KB , 不过Plane的大小可以做到16倍 。
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Plane是闪存的最小单位 , 每个Die里面有一个或者多个Plane , 页面缓冲区保存总线与闪存之间保存的数据 。 闪存芯片被划分为保护位线或单元串的Plane , 因此Plane划分可以减少位线的长度 , 从而有助于提高性能 。 通过在相邻位线之间进行屏蔽以减少读取或验证编程时的建立时间 , 可以进一步增强此技术 。 由于可以并行编程多达十六个位线 , 因此提高了写入性能 。
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X-NAND具有六个主要功能:多位线写入 , 多Plane QLC编程 , 编程挂起 , 多BL读取 , 单锁存QLC读取以及SLC/QLC并行编程 。 取决于实现方式 , 由于可以在编程序列中使用多个Plane , 因此可以大大提高程序的吞吐量 。 使用多个存储体可以同时进行SLC和QLC编程 , 从而确保SLC页面永远不会满载 , 同时可以以SLC速度将数据转存到QLC页面 。 程序允许使用内部共享的页间缓冲区数据线或I/O总线来最大程度地减少额外的延迟 。 通过使用Plane锁存每个位线的读取来改进读取 , 并且可以像DRAM一样用非破坏性的方式来刷新数据 。
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【NEO半导体推出X-NAND,兼顾SLC的速度和QLC的密度】X-NAND可以与任何数量的现有NAND配合使用 , 从而提高了灵活性并简化了转换 。 NEO半导体希望该技术具有成本效益 , 快速且易于在现有设计中实施 , 该公司表示 , 它对于像QLC这样的高密度闪存特别有用 , 因为它可以利用高容量 , 兼顾高性能和较小的芯片面积 , 同时又有良好的耐久性和功耗 , 该技术针对嵌入式设备、AI和云 , 包括NAS、数据中心和边缘计算 。