芯片|重磅!0.2nm路线图来了!详细讲解技术实现( 二 )


Imec 完全相信摩尔定律在它制定 52 年后仍然有效 , 尽管我们认为这不适用于该定律的经济部分 , 该部分还定义了随着时间的推移降低每个晶体管的成本 。 事实上 , 如上所示 , 由于更复杂的设计规则和更长的设计周期 , 芯片设计成本正在飙升 , 从而导致每晶体管成本的增加 。 此外 , 单线程性能提升正在从 90 年代末和 2000 年代初的 50% 年增长的令人兴奋的日子放缓到每年约 5% 。 但是 , 如果我们不考虑密度或经济性 , 摩尔定律通常保持在每两年晶体管数量翻一番的轨道上——苹果的 M1 Ultra 拥有 1140 亿个晶体管 。 为了应对单线程性能下降的趋势 , 我们已经看到 GPU 等特定领域计算设备(专为一组狭窄任务设计的专用处理器)的兴起 。 这些设备通常高度并行化 , 因此可以更快地提高功率/性能和面积效率 。
Imec 指出 , 虽然对更多计算能力的需求过去每两年翻一番 , 基本上符合摩尔定律所提供的性能提升 , 但机器学习/人工智能所需的原始计算能力大约每六个月翻一番 。 这提出了一个令人烦恼的问题 , 因为即使晶体管数量持续翻倍也无法跟上步伐 。 Imec 认为 , 尺寸缩放(包括更好的密度和封装技术)、新材料和设备架构以及系统技术协同优化 (SCTO) 的三管齐下的解决方案可以使行业保持在正轨上 。
Imec 的晶体管和亚 1nm 工艺节点路线图













第一步是启用下一代设备 。 今天的第 4 代 EUV 光刻机的孔径为 0.33 , 因此芯片制造商将不得不使用多重图案技术(每层超过一次曝光)来创建 2nm 及以上的最小特征 。 由于晶圆必须为单层“印刷”两次 , 因此出现缺陷的可能性更高 。 这将导致产量降低和周期(生产)时间延长 , 从而导致成本增加 。 下一代 High-NA 型号(第 5 代)的孔径为 0.55 。 这种更高的精度将允许在单次曝光中创建更小的结构 , 从而降低设计复杂性并提高产量、周期时间(每小时 200 多片晶圆)和成本 。 Imec 和 ASML 预计这些工具将在 2026 年用于量产 。 第一个价值 4 亿美元的高 NA 工具将于 2023 年上半年在 ASML 完成 。 Imec 将在 ASML 设施的测试实验室运行 , 以加快芯片制造商对机器的访问速度(ASML 通常将该设备运送到 imec 的晶圆厂) 。
英特尔将成为第一家获得高 NA EUV 设备Twinscan EXE:5200 的公司 , 该设备预计将于 2025 年正式交付 。 上述相册中的第二张PPT显示了新型晶体管的路线图 , 这些晶体管将实现进一步的密度扩展 , 并希望一些性能改进 , 也是 。 Gate AllAround (GAA)/Nanosheet 晶体管于 2024 年首次亮相 , 采用 2nm 节点 , 取代了为当今前沿芯片供电的 FinFET 。 我们已经看到了几家芯片制造商的公告 , 比如英特尔的四片 RibbonFET , 它们采用了这种晶体管技术的不同变体 。 提醒一下 , 十埃 (A) 等于一 1nm 。 这意味着 A14 是 1.4nm , A10 是 1nm , 我们将在 2030 年的时间框架内与 A7 一起进入亚 1nm 时代 。 然而 , 进程命名节点约定已变成更多的芯片标记营销活动 , 而不是与任何类型的物理测量相关的指标 。 在现实世界中 , 有很多因素会影响工艺节点的经济性和性能 , 例如晶体管密度、峰值性能、每瓦性能、不同类型的逻辑/电路、SRAM 密度等 。 在其图表中 , imec 使用金属和多晶硅间距以及标准命名约定来提供一些其他重要指标 。 我们还可以在 ASML 的PPT中看到晶体管密度测量值(上一张专辑中倒数第二张) 。
Imec 预计GAA/nanosheet 和 forksheet 晶体管(在最基本的层面上 , GAA 的更密集版本)将持续通过 A7 节点 。 互补 FET (CFET) 晶体管将在 2032 年左右到达时进一步缩小尺寸 , 从而实现更密集的标准单元库 。 最终 , 我们将看到具有原子通道的 CFET 版本 , 这将进一步提高性能和可扩展性 。
正如您在最后两张幻灯片(由 ASML 在活动中展示)中所见 , 标准 DUV 为我们带来了 100 MTr/mm^2(每平方毫米兆晶体管 , 一种密度测量) , 而今天的 0.33NA 将推动行业发展至 ~500MTr/mm^2 。 即将推出的高 NA 机器将需要在 2nm 上将其提高到 ~1000 MTr/mm^2 , 并且可能通过多图案化来超越 。
Imec 的 BEOL 'Scaling Boosters' 路线图







进一步提高晶体管密度和性能特性也将需要增强的后端 (BEOL) 工艺 。 BEOL 步骤侧重于将晶体管连接在一起 , 以实现通信(信号)和电力传输 。
Imec 将这些二次密度提高技术称为“缩放助推器” , 因为它们有助于提高晶体管密度和性能 , 即使它们与晶体管的尺寸/位置没有直接关系 。 背面配电是将功率带入芯片背面的一项关键进步 , 英特尔已经宣布了自己的这种技术版本 , 称为 PowerVIA 。 这种技术通过晶体管的背面将晶体管的所有功率直接路由到晶体管 , 将功率分配到晶体管的背面 , 而数据传输互连保持在另一侧的传统位置 。 分离电源电路和数据承载互连改善了电压下降特性 , 允许更快的晶体管开关 , 同时在芯片顶部实现更密集的信号路由 。 信号传输也受益 , 因为简化的布线可实现更快的导线 , 同时降低电阻和电容 。 Imec 坚信背面供电将延伸到所有领先的芯片 , 并且已经在这项技术上研究了五年 , 创造了自己独特的专利背面供电技术 。 自然 , 热量可能成为背面功率传输的一个问题 , 因为晶体管将在通常散热的硅一侧放置金属层 。 尽管如此 , imec 告诉我们 , 使用的金属(目前是铜)足以散热以减少影响 。 但是 , 需要进行一些设计考虑以适应这种技术 。