少子的衰减使集电极电流具有特征尾流波形 ， 集电极电流引起以下问题：功耗升高；交叉导通问题 ， 特别是在使用续流二极管的设备上 ， 问题更加明显 。鉴于尾流与少子的重组有关 ， 尾流的电流值应与芯片的温度、IC 和VCE密切相关的空穴移动性有密切的关系 。因此 ， 根据所达到的温度 ， 降低这种作用在终端设备设计上的电流的不理想效应是可行的 。

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