光纤光缆的基本知识！( 二 ) 本文介绍了光缆线路大衰耗点

2.2大衰耗点的处理
首先确定大衰耗点是否是接头位置，一般在接头位置，所有光纤均有或大或小的衰耗台阶，可将多条光纤的曲线同时分析，可看到所有曲线在接头点均有大小不等的台阶，我们可对各光纤同一位置的接头双向衰耗值进行测试和计算，对大于指标要求的做好记录，并安排对接头位置的大衰耗点打开接头盒进行处理。对不是接头位置的部分光纤的大衰耗点，我们将多条曲线同时分析可看到有的曲线在此点有衰耗台阶，有的就没有衰耗台阶，据此可以判断，这不是接头位置的故障，而是光缆线路中间光缆有故障。对接头处的故障，其位置比较好定位，对非接头位置的故障，定位比较困难，一般原则是对离测试端较近的故障点，可在端站测试，利用OTDR测出故障点离最近接头点的距离，对离测试点较远的故障点，由于距离远，测试的精确度相对下降，定位准确较困难，可在就近接头盒处打开，接入OTDR进行测试，测出故障点的距离后，并结合施工原始资料记录的各种余留，根据直埋径路情况，实地丈量出故障点的大致位置，一般可定位在十几米的范围内，这样开挖的范围就比较小，节省了施工费用，缩短了处理故障的时间。对接头处的大衰耗点，我们采用打开接头盒进行重新熔接处理，用OTDR实时监测，直到接续损耗达到要求。有时经多次熔接，接续损耗达不到要求，这时就要检查是否光纤束管变形引起光纤受压，盘纤盘留时光纤弯曲半径是否过小，光纤是否受压等。经这些检查后，如果还不能达到要求，就要考虑接头盒前后的光缆是否有问题。因为端头的光缆在施工中比较容易受到损伤，这时就要再截去一段光缆重新熔接全部光纤。为了避免出现此类问题，我们在接续前，可仔细检查接头余留光缆，对可疑端头光缆采取多截去一部分的做法，以避免此类问题出现。对线路中间的光缆大衰耗点的处理，在找到故障点后，可发现此类故障或者是光缆出现过打背扣现象，或者是光缆受到损伤，如被石头等硬物硌伤使光缆出现凹进、压扁等变形现象，光纤束管变形而导致光纤受压，产生大衰耗点，或者是其它外力因素造成光缆受损。处理时，可把此段光缆截去从新熔接一般经此处理，大衰耗点基本消失。对在施工时发现的打背扣故障点，应住故障点做好适当余留，以便处理。对受损严重的，加接头盒处理时，可剥开光缆外护套，对有变形的束管进行处理，必要时对受损束管的光纤进行接续。测试点应联系现场熔接人员分别在熔接完毕后进行一次测试，光纤盘留后进行一次测试，接头盒紧固密封后进行一次测试，经测试点测试确认衰耗点故障消失后，现场人员方可撤离。
第二节线路维护测试仪表的使用方法
光纤及光缆线路测试，从光缆线路的维护工作出发，考虑需要与可能的测试项目与手段，从当前的实际出发定出必不可少的测试项目。它包括有：单盘光缆测试，光缆线路中继段测试，光缆线路中继段故障抢修测试等。为了能更好地使用仪表和正确地分析数据，本节对经常使用的关键性仪表光时域反射仪(OTDR)做比较详细的介绍，对测得数据的管理与分析进行探讨性的论述。这一切都是光缆线路维护的关键所在
一.人工设置测量参数：
1.1波长选择(λ):
因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等) ，测试波长一般遵循与系统传输通信波长相对应的原则，即系统开放1550波长，则测试波长为1550nm 。（OTDR测试波长选项只有1550,1310两个模式，一般我们测试时都选用1550进行测试，因为1550波长对光纤衰减的变化比1310更敏感。）|国内G
1.2脉宽：
脉宽越长，动态测量范围越大，测量距离更长，但在OTDR曲线波形中产生盲区更大；脉宽越小，测量范围越小但可减小盲区。同时测量到的数据也更全面。测试的距离越大所要选用的脉宽也越大，通常正常情况下10公里以内脉宽设置为10ns或30ns都可以进行有效的数据采集，如果光纤质量严重下降就要调整更大的脉宽来实现数据的测量。
1.3测量范围
OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离，此参数的选择决定了取样分辨率的大小。最佳测量范围为待测光纤长度1.5～2倍距离之间。
1.4平均时间：
由于后向散射光信号极其微弱，一般采用统计平均的方法来提高信噪比，平均时间越长，信噪比越高。例如， 3min的获得取将比1min的获得取提高0.8dB的动态。但超过10min的获得取时间对信噪比的改善并不大。一般平均时间不超过3min 。